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| X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201720239861.4, 申请日期: 2017-10-31, 公开日期: 2017-10-31
Inventors: 杨培菊 ; 沈志强; 黄晓卷; 任伟; 胡霄雪; 何荔; 刘佳梅; 牛建中
 Adobe PDF(436Kb) |  Favorite | View/Download：91/0 | Submit date：2018/03/20 |
| 液体核磁自动原位反应分析测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201621368678.6, 申请日期: 2017-06-30, 公开日期: 2017-06-30
Inventors: 沈志强; 任伟; 杨培菊; 黄晓卷; 胡霄雪; 苗成霞; 牛建中
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| 多晶X射线衍射-光催化联用原位表征分析(发明) 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201510120892.3, 申请日期: 2017-05-17, 公开日期: 2015-07-08
Inventors: 何荔; 毕迎普; 杨培菊; 任伟; 焦正波; 牛建中
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| 光照-X射线光电子能谱同步分析测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201520953338.9, 申请日期: 2016-04-13, 公开日期: 2016-04-13
Inventors: 刘佳梅; 毕迎普; 焦正波; 黄晓卷; 杨培菊; 任伟; 牛建中
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| 多晶X射线衍射-光催化联用原位表征分析系统(实用新型) 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201520156695.2, 申请日期: 2015-07-01, 公开日期: 2015-07-01
Inventors: 何荔; 毕迎普; 杨培菊; 任伟; 焦正波; 牛建中
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