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X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201720239861.4, 申请日期: 2017-10-31, 公开日期: 2017-10-31
Inventors:  杨培菊;  沈志强;  黄晓卷;  任伟;  胡霄雪;  何荔;  刘佳梅;  牛建中
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多晶X射线衍射-光催化联用原位表征分析(发明) 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201510120892.3, 申请日期: 2017-05-17, 公开日期: 2015-07-08
Inventors:  何荔;  毕迎普;  杨培菊;  任伟;  焦正波;  牛建中
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多晶X射线衍射-光催化联用原位表征分析系统(实用新型) 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201520156695.2, 申请日期: 2015-07-01, 公开日期: 2015-07-01
Inventors:  何荔;  毕迎普;  杨培菊;  任伟;  焦正波;  牛建中
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