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X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201720239861.4, 申请日期: 2017-10-31, 公开日期: 2017-10-31
Inventors:  杨培菊;  沈志强;  黄晓卷;  任伟;  胡霄雪;  何荔;  刘佳梅;  牛建中
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液体核磁自动原位反应分析测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201621368678.6, 申请日期: 2017-06-30, 公开日期: 2017-06-30
Inventors:  沈志强;  任伟;  杨培菊;  黄晓卷;  胡霄雪;  苗成霞;  牛建中
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光照-X射线光电子能谱同步分析测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201520953338.9, 申请日期: 2016-04-13, 公开日期: 2016-04-13
Inventors:  刘佳梅;  毕迎普;  焦正波;  黄晓卷;  杨培菊;  任伟;  牛建中
Adobe PDF(546Kb)  |  Favorite  |  View/Download：127/0  |  Submit date：2017/05/05