N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响
Department先进润滑与防护材料研究发展中心
吴劲峰; 何乃如; 邱孟柯; 吉利; 李红轩; 黄小鹏
The second department固体润滑国家重点实验室
2013
Source Publication功能材料
ISSN1001-9731
Volume44Issue:1Pages:32-35
Abstract

采用非平衡磁控溅射技术在AISI202不锈钢片和P(111)单晶硅基底上制备了TiAlN薄膜,并利用场发射扫描电镜(FESEM)、三维轮廓仪、X射线衍射仪(XRD)、X射线电子能谱仪(XPS)、纳米压痕仪对薄膜的结构和性能进行了考查。结果表明,随着N流量的升高,TiAlN薄膜的沉积速率降低,Al/Ti比率先升高后迅速降低;薄膜主要由TiN 立方晶构成,且随N流量的升高晶粒尺寸减小,柱状晶结构变疏松。在氮气流量为20mL/min时,薄膜具有最高的硬度及结合力。

Keyword磁控溅射 Tialn 薄膜 N2 流量 微观结构 硬度 Magnetron Sputtering Tialn Films Nitrogen Flow Microstructure Hardness
Subject Area材料科学与物理化学
Funding Organization国家自然科学基金资助项目(51065001)
Indexed ByEI&CSCD
If0.5791(CSCD-JCR)
Language中文
Funding Project磨损与表面工程课题组
compositor第二作者单位
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.licp.cn/handle/362003/4596
Collection中国科学院材料磨损与防护重点实验室/先进润滑与防护材料研究发展中心
固体润滑国家重点实验室(LSL)
Corresponding Author吴劲峰
Recommended Citation
GB/T 7714
吴劲峰,何乃如,邱孟柯,等. N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响[J]. 功能材料,2013,44(1):32-35.
APA 吴劲峰,何乃如,邱孟柯,吉利,李红轩,&黄小鹏.(2013).N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响.功能材料,44(1),32-35.
MLA 吴劲峰,et al."N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响".功能材料 44.1(2013):32-35.
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