化学结构化硅面表OTS自组装膜形貌及性能表征 | |
Department | 固体润滑国家重点实验室 |
庞重军; 于波(男); 宋仕永; 巩育军 | |
2007 | |
Source Publication | 润滑与密封 |
ISSN | 0254-0150 |
Volume | 32Issue:11Pages:112-114 |
Abstract | 用40%NH4F对Si(100)表面进行化学织构化, 然后用十八烷基三氯硅烷(OTS)进行分子自组装, 在织构化表面谷底区域形成液体凝聚(LC)相分子薄膜。织构化表面的典型山丘直径约30 nm, 高约7 nm; 典型的LC相OTS单层膜原子力显微镜(AFM)厚度约213 nm。随着反应时间的延长, OTS薄膜的LC相面积覆盖率逐渐增加, 30min后达到70%左右的平衡值。OTS组装8 min后的表面静态接触角即达108°左右, 且表面接触角不再随反应时间的延长或LC相面积覆盖率的增加而明显变化。组装的OTS薄膜能显著改善织构化硅表面的摩擦学性能。 |
Keyword | 薄膜 自组装 Ots 形貌 性能表征 Thin Film Self-assembled Monolayer Topography Performance Characterization |
Subject Area | 材料科学与物理化学 |
Funding Organization | 广东省自然科学基金项目(7010253);茂名学院博士启动基金项目(208032) |
Indexed By | CSCD |
Language | 中文 |
Funding Project | 空间润滑材料组 |
Citation statistics | |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.licp.cn/handle/362003/4162 |
Collection | 固体润滑国家重点实验室(LSL) |
Recommended Citation GB/T 7714 | 庞重军,于波(男),宋仕永,等. 化学结构化硅面表OTS自组装膜形貌及性能表征[J]. 润滑与密封,2007,32(11):112-114. |
APA | 庞重军,于波,宋仕永,&巩育军.(2007).化学结构化硅面表OTS自组装膜形貌及性能表征.润滑与密封,32(11),112-114. |
MLA | 庞重军,et al."化学结构化硅面表OTS自组装膜形貌及性能表征".润滑与密封 32.11(2007):112-114. |
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2007-112-114.pdf(495KB) | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Application Full Text |
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