一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法 | |
刘建; 郝俊英; 刘维民 | |
2022-04-05 | |
Rights Holder | 中国科学院兰州化学物理研究所 ; 青岛是资源化学与新材料研究中心 |
Country | 中国 |
Department | 固体润滑国家重点实验室 |
The second department | 润滑与防护薄膜课题组 |
Application Date | 2020-09-14 |
Patent Number | ZL202010960652.5 |
Language | 中文 |
Status | 已授权 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.licp.cn/handle/362003/29169 |
Collection | 固体润滑国家重点实验室(LSL) |
Recommended Citation GB/T 7714 | 刘建,郝俊英,刘维民. 一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法. ZL202010960652.5[P]. 2022-04-05. |
Files in This Item: | ||||||
File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
????.pdf(1810KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Application Full Text |
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment